标题：材料与被测零件或部件的基材的特征分析显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2016-3-21 12:23:44
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正文:
材料与被测零件或部件的基材的特征分析显微镜
校准试样精度的检验
零位校准用试样(无涂层的基材)；
材料应与被测零件或部件的基材的特性相同样中获得的仪
器响应与从工件基材中获得的仪器响应进行比较，从而确定两
者的特性是否一致。材料的特性也可用冶金的和物理的方法来
检验。校准箔片校准箔片通过检验，以保证箔片具有与被测材
料相同的特性和仪器响应。切实可行的检验箔片厚度的方法是
用显微镜来测餐。
有涂层的校准试样
试样的基材和涂层均需检验，以确保它们具有与被测材料
有相同的特性和仪器响应。涂层的厚度，则可用下列的方法之
一作适当的检验。
(1) 用物理方法测量。实用的方法是，将试样的部分涂层留下
，而其余的部位则作为无涂层的基材，然后用显微镜或千分表
分别测量有涂层和无涂层部分的尺寸，求出差值，从而得到涂
层的厚度。为了获得涂层厚度的平均值，建议在每个部位作多
次测量。应该注意，如果校准试样的尺寸是均匀一致的，则表
明检验方法是有效的。
(2) 校准试样有机金属物的测定，可用部分截面解剖法。如果
无法实施，则可磨光此试样的边缘(在后面的情况中，测得的厚
度不能作为整个试样的代表值)。涂层厚度由具有刻度分度镜的
光学测量仪器确定。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科