标题:电子探针(电子光学和X射线衔射仪)的分析原理

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2016-3-4 16:55:15 将本页加入收藏

下一篇:金相显微镜光源设计是垂直照明-适用观察那些样品       上一篇:研究适用于玻璃纤维水泥样品检测工业显微镜

收藏到:

点击查看产品参数和报价--丨--

--- --- ---

正文:

电子探针(电子光学和X射线衔射仪)的分析原理

  使用极细的电子光束射入样品的表面,因而能够激发出
  样品里面所含元素的X射线,分析对比其X射线的波长就
  可以知道元素的类别了;并且分析反射出的特征X射线
  的强度就可以知道该元素的含量有多少了;电子探针
  显微镜的外面的镜筒部分的构造和电子扫描显微镜差不多
  只不过光学部分使用了X射线;用来检测样品的X射线的
  特征波长,电子探针这些特点可以用被用来观察样品微观
  区域的化学成分分析;

它主要通过二次电子和背射电子结合来观察样品的微观区域
的形貌;

同时对样品进行X特征分析,得出样品的元素微观区域的元素
含量和元素种类;

什么是背射电子呢?背射电子是指,入射电子和样品相互作用
之后再样品逸出的一种高能电子;它的能量基本上都接近于入射的
电子能量;使用背射电子可用来观察非进服饰的抛光表面的元素分布
以及相的分布;并也可以进行元素的鉴定分类和所含有量的定量分析











出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
特别声明:本文出自北京上光仪器有限公司-未经允许请勿转载,本文地址:http://www.bjsgyq.com/news/8114.html  
  北京地区金相显微镜专业的供应商

合作伙伴:

友情链接:显微镜工业投影仪,轮廓投影仪,测量投影仪油品清洁度分析系统表面粗糙度阿贝折射仪金相抛光机