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正文:
当螺旋梯阶状小形成某种由多圈蜷线所构成的,相隔成层的蜷面
层时,每层的厚度相当于作为一定结构单位的一层硅-氧四面体群
的厚度,在型结构的试样上曾发现超细的两圈蜷线,根据干涉仪的
测量,组成的蜷面层的平均高度等于4.9A,测量误差为4.5%,显然
,蜷线的每一圈相当于两层取向相同的硅-氧四面体,蜷线两圈有
规律的交替同样导致了平等层组与反平行层粗的有规律的更迭,并
且引起型结构的形成。
同样,在型结构的试样上,由两圈蜷线组成的蜷面层的平均高度
等于7.9A,亦即在洞里误差范围内与试样结构中所具有的一层取向
相同的硅-氧四面体的厚度一致,在更多层堆积的情况下同,上述
的一致性仍继续保持;按18层排列的规律构成了试样晶面上的结构
,蜷线梯阶高度等于51.9A,梯阶高度的测定是按照直接测量干涉
条纹位移的方法进行,在这种情况下的精确度不高,在具有很大的
超周期的其他结构类型的试样上,该类型有内部结构与晶面蜷线显
微形貌的一致性也同样有过。
在一个晶体上由于蜷线接近时,四个活动中心同时作用而形成的
梯阶平均高度等于1493A,此晶体接近方向的X射线振动照片的测量
证明了每经过144层就在相当于6层排列的重复周期的基础上垛上一
层有规律的“层错”因此晶体中的超周期约为360A。
出自http://www.bjsgyq.com/
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