标题：机器和构件材料基体不同的微粒组成结构检测显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-11-22 1:07:24
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正文:
机器和构件材料基体不同的微粒组成结构检测显微镜
机器和构件的损坏实际上总是从由于几何形状不连续或显微
组织不连续造成的局部应力集中的区域开始的。这些应力集中或
应力集中源常常导致局部应力比未考虑应力集中效应而算出来的
名义净剖面应力高许多倍。当构件承受外载荷作用时，我们可以
用。力流镑通过构件的想法来获得与几何不连续有关的应力集中
的直观了解。
应力集中效应
为了研究应力集中效应。应力增大因子可分为高度局部性的
和广泛分布性的。高度局部性的应力增大因子是指含有应力集中
的那部分材料的体积比受力构件的总体积小得多，可以忽略不计。
广泛分布性的应力增大因子是指含有应力集中的那部分材料体积
占受力构件总体积的相当大的部分。因此，对于高度局部性的应力
集中来说，受力部件的总体尺寸和形状不会因应力集中区域内的
材料屈服而有显著的改变。而对于广泛分布性的应力集中来说，
受力部件的总体尺寸和形状将由于应力集中区域内的材料屈服而
有显著的改变。例如，小孔和内圆角，通常都被看作是高度局部
性的应力集中;弯钩或环形挂钩接头则归入广泛分布性应力集
中。
位错几何学
金属晶格的缺陷可以分为四大类，包括点缺陷、线缺陷、面
缺陷和体缺陷。
点缺陷 它是非常局部的晶格缺陷，其影响只波及距缺陷中
心一个或几个原子直径的范围。点缺陷包括空位(失去的原子)，
间隙原子、溶质原子和在按其它顺序排列的超格子结构中的错位
原子。
线缺陷 它是位错，这种缺陷形式将在下节中详细讨论。
面缺陷 它是排列在晶体内部的缺陷平面或缺陷曲面。面缺
陷包括晶界、亚晶界，孪晶界和在晶体内部原子平面中的堆垛层
错等。
体缺陷 它是三维的缺陷，诸如空位、气泡、其定向与周围
基体不同的微粒，或在不那么完整的基体中的点缺陷的集聚。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科