标题：材料的光学性质的深度剖面分析多功能显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-11-14 19:40:18
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正文:
材料的光学性质的深度剖面分析多功能显微镜
气体一传声器理论的研究中清楚地看出，可以利
用光声效应完成对样品的各种测量。显然，可以利用光声谱
仪求得任意的并且是所有形式的材料的光吸收资料。当某些
参量如样品的热扩散率或几何尺寸未知时，这些资料可能是
定性的。而当它们为已知时，则完全是定量的。此外，改变斩光
或调制频率，可以得到材料的光学性质的深度剖面分析。在
高的斩光频率，得到的是样品表面附近的资料，而在低的斩光
频率，所得资料来自样品内较深的部分，这是光声技术所独具
的特色。倘若斩光频率足够高，从而使热扩散长度小于光路
径长度时，则还可能得到完全不透明材料的光吸收资料，这
是它另一个特有的性能。现在的光声谱工作大体上都是实验
测定物质的光吸收性质。这些实验已经很有成效，获得了无
机、有机和生物系统的有价值的光谱资料，这些资料是用其它
传统的技术所不易获得的。
非均匀样品
至今，我们只是涉及均匀固体材料或由均匀层组成的层
状材料中的光声效应。然而，将光声效应应用于非均匀样品
也是很有意义的。感兴趣的层状系统包括薄膜电子材料，涂
有油漆或聚合物薄膜的样品以及如照相底片等多层材料。此
外，还有许多有实际意义的问题，其中有样品是热学上均匀
的，而光吸收从表面随着深度连续变化。这些问题包括确定
掺杂的半导体材料的特性，表面与内部有不同吸收性质的激
光窗口的特性以及生物组织的特性。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科