标题:断口产物电子显微镜分析成分的确定及产物相结构

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-11-11 23:09:02 将本页加入收藏

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正文:

断口产物电子显微镜分析成分的确定及产物相结构


制备好的保护试样按一般金相试样进行操作:粗磨、细

磨、抛光、浸蚀、最后进行观察。在整个过程中要注意二点:

    1.在研究断裂的变形情况时,需进行电解抛光,以免由
于机械抛光带来的试样变形。

    2.裂纹的浸蚀要适度,选择适当的浸蚀剂,特别是需要
分析裂纹中的产物时,则建议不要浸蚀先进行观察和分析,最
后进行开裂途径与组织关系的分析。

    在研究断裂与组织的关系中,还可以直接浸蚀断口,把所
显示的组织与断口中的断裂层次相对应,但必须十分小心,否
则将使原断口破坏。浸蚀后的断口除供宏观拍摄外,还可直
接进行扫描电子显微镜观察,或进行二级复型,制备透射式电
子显微镜样品。

因为断口的浸蚀只能进行一次。因此,选择浸蚀试剂是相当重
要的。最好是用同一类试样(从断裂构件上取下的试样),先
进行试验,观察,当效果好时再用于断口试样的正式浸蚀。对
于重大的断裂事故,一般是不允许破坏断口,“消灭罪证”的,
不得已才这样做,但必须留下断口的另一半。

断口上产物情况是很复杂的,如有的很疏松、有的极薄、
有的易挥发、有的还容易水解等。加上断口粗糙不平,给断口
产物分析带来极大的麻烦。
    断口产物的分析可分两大类:成分的确定及产物相结构
的确定,前者通常应用化学分析、光谱、带有能谱的扫描电子
显微镜、电子探针、离子探针、俄歇能谱仪等,而产物相结构的
分析则常应用x光衍射仪、德拜粉末相机X光衍射、透射式
电子显微镜选区衍射、高分辨率衍射等。











出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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