标题：晶粒成长、相变制备过程偏析和析出实验显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-10-22 14:18:40
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正文:
晶粒成长、相变制备过程偏析和析出实验显微镜
通常讲陶瓷的特性受其晶界现象影响，这句话并不过言。即
首先是烧结、晶粒成长、相变时成核等制备过程中的现象，而机
械强度、韧性、塑性变形、高温蠕变等力学性质(机械性质)、
电导率、介电损耗等电学性质和耐腐蚀性等化学性质则取决于多
晶体晶界的性质和状态。尽管晶界对陶瓷起着如此重要的作用，
但其结构与性质方面的确切情况还几乎不清楚。目前，比较清楚
的是金属多晶体的晶界。因此，往往从金属晶界去类推陶瓷(大
多为氧化物)晶界。如将金属晶界和陶瓷晶界相比，确实有下列
几个相似之处。
1)界面能和界面张力(即在热力学上可作同样的分析)
2)晶界上的杂质对物质迁移的影响，
3)晶界扩散比晶格内扩散明显得多，
4)由于晶界滑移而引起的形变，
非平衡状态的晶界偏析和相分离
偏析和析出现象
晶界区域的溶质偏析和相分离处于非平衡状态，譬如冷却过
程中常会引起这种现象。冷却速度对偏析的程度有明显的影响。
即慢慢冷却时偏析就多，急冷时偏析就少。
在阐述晶界现象时，必须注意以下区别：
1)晶界上的现象——说明晶界的位错中心，
2)晶界附近的现象——说明晶界附近的应力和空间电荷，
3)与晶界有关的现象——在非平衡状态下，说明宽度变化
的晶界区域的溶质偏析和相分离。
“处于平衡状态的晶界的宽度是晶格常数的几倍"这个结论
以下列事实为根据：
1)观察晶界能低的孪晶晶界，观察晶界上的结晶学小晶
面，观察具有位错网络结构的小角度晶界，受到晶界应力作用的
宽度是在电子显微镜分辨率的范围内(30～50埃以下)，
2)和晶界扩散的数据一致
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科