标题:待测矿物各粒级颗粒在不同矿石中的含量比例计量显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-8-3 17:12:58 将本页加入收藏

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正文:

待测矿物各粒级颗粒在不同矿石中的含量比例计量显微镜


  矿石中待测矿物颗粒尽管呈不等粒产出,但当各大小粒级的颗粒
皆按一定比例均匀嵌布地矿石的各部分中时,随意测量少数矿石光
片中待测矿物的粒度特性,也可代表矿石中该矿物的嵌布粒度,可
是这样的情况并不普遍。

  通常待测矿物的各粒级颗粒在不同矿石中的含量比例并不一致,
所以取不同矿石光片所测得的矿物粒度情况将各不相同,因此粒度
测量时选取具有足够代表性的矿石样品是极为重要的工作,对不具
粒度代表性的矿石样品进行任何精确的粒度测量也将是徒劳,因为
我们所需要了解的是矿石整体中某种或某几种矿物的嵌布粒度特性
,而不是某块矿石中的矿物粒度情况,对粒度嵌布不均匀的矿石,
若使测量的结果与矿石的整体情况相近似,就需要进行多块矿石的
测量工作,可是供显微镜下测量粒度用的矿石光片数量却不可能太
多,因此就必须通过分类加权取样或碎矿拌均缩分的方法来选取测
量样品,即选取具有粒度代表性可供定量测量用的样品。










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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