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正文:
大概场发射显微镜和场离子显微镜要算是最精密的表面分析方
法之一了,它们的基本原理是,对表面施加一个足够强的电场,
使电子能够燧穿表面的功函数壁,因为燧穿几率取决于电子通过
的表面的状态,所以燧穿电子数在表面细节发生变化时也随之逐
点变化,这样就能以接近于单个表面原子尺度的分辨率得到关于
空间变化情况的许多信息,除了能够提供被测表面“图象”的空
间变化外,
测量燧穿电子的绝对数目,也可以提供表面上详细电
位分布的定量信息。
在场发射显微镜中,外加电场使电子通过燧道效应空出表面,
测量电子数目和把电子加速,使它打到一个
荧光屏上,就可以得
到功函数在表面变化的图象,而在场离子显微镜中,这个电场被
颠倒过来,使气体原子中的电子通过燧道效应进入表面,从而形
成正离子,然后将这种正离子加速到荧光屏上,也能得到表面电
位变化的图象,使用这些方法的主要问题是,需要一个每厘米几
百万伏的电场,才能产生可探测的结果,试图用普通的平面来做
这类实验显然是不切实际的,为了得到这样强的电场,必须使用
极细小的尖端,也就是说,样品要做成一个锥形,其尖端的曲率
半径接近几百埃,因此,这种方法就受到一定限制,即研究的材
料必须能加工成这种形状,而且要能承受所要求的电场。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科