标题：比较法是将被测表面与粗糙度样块比较-粗糙度检测显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-7-21 19:22:13
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正文:
表面粗糙度的检测
测量表面粗糙度的仪器形式多样，从测量原理来看，有比较
法、光切法、光干涉法和针描法。
比较法
比较法是将被测表面与粗糙度样块比较，用目测或手摸来判
断被测面的粗糙度等级。使用简便，适宜车间生产检验。
为使比较的结果一致，粗糙度样块的材料、外形和加工方法
应与被测零件相 用粗糙度样块跟工件比较同，现今已由专业
厂，按车，铣、刨、磨、钻，镗等复制成套标准样块供应。也可
从生产的零件中挑选样品，经仪器检定后，作标准样块使用。
粗糙度高时，需借助显微镜放大观察。
光切法测量原理
光切法是将一束薄平的光带，斜向45°照亮被测表面，从反
射方向观察光带与表面的交线。此时表面轮廓的峰谷高度被放大
了根号二倍，经过显微镜，再放大N倍，成象在目镜视场中。再
用读数目镜中的十字线之一瞄准影象边缘的峰顶，读数，然后移
动十字线瞄准影象边缘的谷底，读数。因标尺与十字线成45°交
角，因此，两次读数之差为实际轮廓高度的2N倍。测量基本长度
内五个最，高峰顶和五个最低谷底之间的距离，取平均值，即得
Rz值。
按光切原理制成的仪器叫做双管显微镜，又称光切显微镜，
用于测量Rz=0．5—μm．
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科