标题:用电子显微镜实验研究表面缺陷对膜层结构特点

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-7-16 13:35:30 将本页加入收藏

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正文:

用电子显微镜实验研究表面缺陷对膜层结构特点

 发若干年来,已有大量文章对粗糙度表面的反射作了研究,量仅
仅在近十年内,才应用衍射理论对其作了高度严格的研究,有关表
面粗糙度的大量工作,过去多是从研究玻璃抛光机理的角度来研究
的;所用的光学方法仅是评价粗糙度的一种间接手段,这些理论研
究结果量也是可用对前表面反射镜进行质量评论,但直至最近,对
于各相邻膜层间可能形成的粗糙表面的影响,却末给予足够重视,

唯一认识到的是,基片表面粗糙度会在膜系各界面复现出来,以致
于因漫射而损坏膜系的性能,最近,根舍用扫描电子显微镜实验研
究了其片表面缺陷对膜层性能的影响,发现多层膜与单层膜中出现
许多结核瘤,究其原因均系表面粗糙度所致,在结核瘤处,表面不
是有微痕麻点坑,便是有突疣,这表明基片表面的精细抛光对提高
膜系的全面性能是至关重要的。











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