标题:测量表面粗糙度的仪器当相互比较表面测量仪器

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-7-13 20:29:17 将本页加入收藏

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正文:

测量表面粗糙度的仪器当相互比较表面测量仪


    表面粗糙度的定义关于表面微观结构的各个方面的概念实
际表面偏离想表面的偏差用三种结构型式——粗糙度、波度和
加工纹理方向来描述。
    波度:由表面结构的宽节距部分组成,其节距一般要比粗
糙度截止宽度宽,因此被排除于测量以外。
    加工纹理方向:是占优势的表面花纹的方向,一般由采用
的制造工艺方法所决定,在这一章中,只有表面粗糙度是我们
所关心的问题。

    用于测量表面粗糙度的仪器当相互比较表面测量仪器时,
不仅仪器是基本要素,而且评价整个测量系统,包括表面的型
式,仪器分设备和数据显示装置等,

测量系统的各个部件比较表,正如下述,有些仪器通常测出表
面截面轮廓,有些仪器可作出形貌图。
    光剖切式——发展了这一技术,称之谓光切法,这是把形
成尖锐刀刃形状的光束,以与表面间大约45度角投影到被测表
面,在观察显微镜管中产生表面的光切剖面,如图3 所示,在
校正好合适的放大倍数后,根据光学剖面显微图象可以测出表
面的截面轮廓,它主要用于比较粗糙的表面(峰互谷大于1 μ
m )。











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