标题：测轮廓表面比较均匀或均匀时Rz大约为Ra的4～5倍
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-7-5 20:30:22
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正文:
测轮廓表面比较均匀或均匀时Rz大约为Ra的4～5倍
实际应用中，一般认为，当被测轮廓表面比较均匀或均
匀时，Rz大约为Ra的4～5倍。
高度参数与间距参数之间的关系 以人们所熟悉
的Ra，Rz为基础，能苔找到间距参数与高度参数两者之间
的对应关系呢?它们之间在数值上是否有一定的联系呢?国
标工作组做过一系列实测。实验结果表明：按一定的加工方
法进行加工的零件表面，对应某-Ra值范围的间距参数Sm
值总是有较大的变化区域的，一般最大值与最小值之间其相
差约3～7倍。如果不考虑加工方法，而只按粗糙度高度参
数值(按光洁度的级别)划分，则除V10以上的高级数光洁
度对应的Sm变化范围有限之外，其余较低级数的光洁度，
因加工方式比较广泛，所对应的Sm的变动都非常大。
由实测结果得出下列结论：高度参数与间距参数之间不
存在某种形式的对应关系。然而，从另一角度来看，按一定
的加工方法同时又按一定的光洁度级别划分，或者不考虑加
工方法而只按光洁度级别划分时，尽管所对应的Sm值变化
范围较大，但它毕竟使我们从数量上有了一些概括的认识，
这对设计和工艺无疑是有益的。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科