标题:光切式显微镜进行自动测量样品的表面粗糙度

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-7-1 22:32:33 将本页加入收藏

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正文:

光切式显微镜进行自动测量样品的表面粗糙度


莫尔条纹分布不仅可以求立体形状的等高钱图谱,也可
以用来求图谱的坐标值,并进行复制。复制过程是,从各方向
拍摄许多等高线莫尔条纹的照片。相对于指定的剖切水平,用
计算机求各断面的坐标值,然后求环切状的合成断面图。把
这些图形累积起来(等高线累积法和剖切面累积法)就成为原
来的形体。此法和前面讲的三坐标测量机比较,是更直接的
方法。
    目前,正在研究将莫尔条纹用于光切式显微镜上,增加莫
尔条纹的景深,可以容易地观察表面粗糙度及微细的表面形
最近研究了利用激光的高相干性,高能量非接触地测量
物体的微小变形(位移的分布)的方法。其中,引人注目的是,
测量粗糙表面物体的微小变形,物体的热变形及进行非破坏
检查等。用光学摄影法测量漫反射面微小位移的方法有全息
照相干涉法,斑纹干涉法及斑纹摄影法。下面介绍用电视技
术在加工中进行自动测量的斑纹干涉法。    .
    电视系统比摄影系统析象能力低,而斑纹干涉法恰恰可
以利用低析象能力的摄影材料,因此斑纹干涉法有可能应用.
子电视系统中。










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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