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正文:
电子显微镜法
在透射电子显微技术上一般需要制备透明的表面复型。
除了复型技术往往是一件麻烦的事之外,还很难肯定复型是
否代表了原来的轮廓或者从复型所得的电子显微像的解释是
否对口径。若采用反射电子显微镜时这些困难就不会发生。
其一般原理是把电子流沿观测角入射到被观察的表面上和按
通常办法调整散射的电子。所得的电子显微像所反映的
表面轮廓有如行人看到迎面开来的汽车车灯所照亮的马路的
不平整表面一样。表面不平整性形成了长的阴影但是随视角
变小而缩短。然而计算出所揭示的表面的特征的真正高度并
不困难。这种技术的最大优点是不需要制备复型:表面本身
直接在电子流下被观测(若表面是非
金属时必须喷涂上一
层银的薄膜以避免充电效应)。
单从电导率的测定来对平面的真实接触面积作出准确的
估算是困难的。电导值必须同时决定于金属桥的大小和数
目。因为每个金属桥的散布电阻与它的直径成反比,而接触
面积与其直径的平方成正比,因此,对于在一固定电阻值
下,接触面积就与金属桥的数目成反比。虽然在平面相接触
的情况下,显然支承表面的接触点不可能小于三,但对金属
桥的数日还是无法肯定的。如果假定金属桥的数目实际上就
是三个,那末我们就可从接触电阻来估算接触面积。计算的
结果表明,在表面的宏观面积上只有很小的一部分是紧密接
触的
接触区域可用光干涉法测出,并可量出开始滑动时的粘
附力和切线力。这方法提供了也许是研究分子般平滑的表面
间的相互作用的唯一方法。可以在云母上覆盖单分子层并可
研究它们之间的相互作用。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科