标题：电光器件细晶粒尺寸-杂质含量计量金相显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-5-20 2:03:05
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正文:
电光器件细晶粒尺寸-杂质含量计量金相显微镜
去除气孔是使力学可靠性和介电可靠性最大改善多种
电功能的关键目标。
这对于电子基片、电光器件、离子导体、多层电容器
以及压电系统等都是特别重要的，细晶粒尺寸也是对控制
介电性能起重要作用的，因为它能控制畸尺寸，控制畸壁
的移位，引起的特性上形成磁滞回线，因而引起功率损耗。
在特殊的离子及电子电导的情况下，性能的优选及可
靠性的改进可能是复杂的，特别当器件是在高温下工作时，
要考虑的因素是所要求的杂质含量，它的存在以给出合适
的电导而不致偏析到晶界上去，而在晶界处它们会干扰电
导过程，增大晶粒尺寸会使包含在电导过程中的晶界数目
降低，因而降低了晶界对总电阻的贡献，但是这会导致力
学性能变弱，所以确定晶粒尺寸时必须综合考虑，此外，
一些晶粒的择优定向会提高电导率，其作法让电导平面与
晶界方向垂直，在高温超导体中，如此的定向措施可视为
达到高的临界电流的理想方法。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科