标题:金属材料平均晶粒尺寸计量分析图像显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-5-4 14:05:15 将本页加入收藏

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正文:

金属材料平均晶粒尺寸计量分析图像显微镜

    金属材料经过再结晶或一段时间的正常晶粒长大以后,假如
组织中存在一些尺寸明显大于或面数明显多于其邻晶的晶粒,则
这些晶粒的晶界将内凹以使界面张力在晶界相交处达到局部平衡。
由于这种界面张力的局部平衡和降低界面面积的需要,晶界将在
不断的“平直弯曲”运动中向其曲率中心方向移动。晶粒越大或
晶粒面数越多则晶界的内凹曲率越大,作用在晶界上的驱动力根
据拉普拉斯方程也将越大,于是

大晶粒的晶界向外迁移的速度,即晶粒长大的速度将明显地大于
其他晶粒.从而相对于其他晶粒,大晶粒的长大速度将越来越大,
所以异常晶粒长大一旦发生将自动持续下去,直到其余较小的晶
粒全部消失。

这两种过程的基本区别在于系统中长大晶粒的区域分布不同。
在正常晶粒长大过程中,晶粒长大的临界晶粒尺寸一般相当于
或略大于系统的平均晶粒尺寸。

由于所有大于临界晶粒尺寸的晶粒都能长大,长大的晶粒很多并
且相对均匀地分布于整个试样中,所以在正常晶粒长大过程中的
任意时刻,几乎所有晶粒都受到品界平直弯曲运动的影响而或者
长大或者缩小,处于不断的晶粒尺寸变化状态之巾.从微观组织上
看,晶粒之问尺寸相差不大,而且除了平均晶粒尺寸逐渐地连续
地上升以外,并无其他组织变化。反之在异常晶粒长大过程中,

平直弯曲运动只发生在极少数具有异常大尺寸的晶粒的晶界上,除
了这些个别的“超级大晶粒”以外.其余大量不与它们接壤的晶
粒基本上稳定地保持原有尺寸。这些被称为基体的晶粒几乎既不
长大也不缩小,直到那些长大的二次晶粒逐渐扩张到它们周围而
被吞噬,或者晶粒长大的条件发生变化,如温度改变或者阻碍它
们长大的第二相粒子溶解或粗化,而使其晶界得以运动。

    所以很明显,异常晶粒长大过程持续进行的微观组织条件就
是:远离扩张晶粒的基体晶粒保持基本稳定的尺寸。因此,异常晶
粒长大研究的关键理论间题在于探讨晶粒组织中哪些晶粒有可能
成为二次晶粒以及基体晶粒得以保持稳定尺寸的原因所在。










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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