标题：电子显微镜技术需光栏装置设计放进物镜后焦面
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-3-3 0:16:59
将本页加入收藏
下一篇：固溶机械加工热加工检测便携金相显微镜
上一篇：矿物学矿物的晶体是非常小需要显微镜才可看到
点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
电子显微镜技术需光栏放进物镜后焦面
研究晶体缺陷最普遍采用的透射电子显微镜技术需
要把一个光栏放进物镜后焦面。这个光栏选取一束电子并保证只
有这束电子参加形成终端象。选取透射束得到亮场象，反之，选取
衍射束就形成暗场象。这种方法形成的象就是所选电子束强度在
晶体底面各点变化的电子象。如果从试样的这个区域到另一区域，
透射束强度变化明显，就得到亮场象衬，相应的效应也可在暗场中
出现。晶体局部弯曲是能引起电子束强度变化的一种最明显的结
构变化，这种变化可以由晶体缺陷、析出物等引起。如果局部弯曲
影响的是位于或接近于布拉格角的晶面，可以预言，局部区域的强
度会有重大变化。然而，如果弯曲畸变只涉及不满足布拉格条件的
品面以及弯曲畸变不足以使晶面达到满足布拉格条件，也不致引
起局部区域强衍射，可以预料，这时电子象不会有多大变化。根据
这个定性推理，可以知道，试样的衬度看来取决于衍射条件，即特
定晶面是否发生强衍射和它们接近于布拉格条件的程度。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科