标题：内部检查时使用从低倍率到SEM的数种显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-2-19 2:33:26
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正文:
内部检查时使用从低倍率到SEM的数种显微镜
一般程序
在失效确认程序中，透明试件的内部检查限于报告的内
部缺陷。例如，关于“在试件的内部看到游离的微片”或"试"
件动作但接触弹簧歪斜”等说明即是。此时，内部检查首先
从确认报告开始。
透明试件的内部检查与一般非破坏程序相同，特别是最
初分析的内部检查，不只是验证所报告的失效，而且要从鉴
别失效模式和机理开始。
其后，透明试件的一切内部检查按照半破坏或破坏的程
序进行，与不透明试件的内部检查和目的相同。
特别应检查的项目为:
①结构设计及使用的材料。
②污染引起的腐蚀或枯附物。
③细裂纹或裂缝。
④电镀不完全。
⑤相互接触及接合不良。
⑥热或电气损伤。
⑦静电引起的损伤。
在内部检查时使用从低倍率到SEM的数种显微镜。检查
顺序决定于使用的装置和器具，例如，试件内部构成整体的
光学检查不是一开始就用SEM，而是分析段地向高倍率进
展。全部重要信息都要进行显微照像。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科