标题：矿石标本结构构造截面分析图像显微镜-粗糙度测量
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-1-25 4:02:18
将本页加入收藏
下一篇：光电原理测定反射率-计算出矿物反射率的大小
上一篇：岩石学研究用的偏显微镜的构造-便携光学计量仪
点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
矿石光片是矿相显微镜研究的主要对象。光片磨制的质量好
坏，直接影响到矿相学研究的可靠度。光片的制备过程须经准备矿
石、切片、棋磨、(细磨、磨光、安装等几道工序)o
首先选择有代表性的矿石磨制光片，光块或光薄片。
光块是对具有特殊意义或有代表性的矿石结构构造(如显示划分
矿化阶段的标志，
有典型的矿石构造的)的部分磨制成大光面，.其大小根据实际情况
选定。光块可提供作较大范围光面进行观察研究之用。光薄片是
偏，反步两用的，不加盖玻璃，可以鉴定透明矿物的成分以及与
不透明矿物之间的关系，
其次是将标本进行锯切，并进行粗磨及细磨，然后将细磨的
光片进行抛光，最后将光片进行按装，即可放到显微镜下去观察。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科