标题：镀层金相截面法测量厚度计量金相显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-12-15 17:26:05
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正文:
当测试的样品具有简单的形状(例如板、管等)，只要简单的测
量就够了.但是，当形状复杂时，需要一个定位夹来保证千分表或
数字千分表总是测在同一位置上.良好的千分表有±2μm以下的
精度。
金相截面法测量厚度的通用方法相当简单的方法特别适合于
厚度5μm以上的镀层.由于光学显微镜分辨率的限止，较薄的镀层
能够测量到±0.5μm。金相截面法不适合测量厚度2μm以下的镀层。
测量铁磁性基底上的非铁磁性镀层.有两种不同的测量原理。
吸力法中，测量镀层厚度是利用永久磁铁和基底之间的吸力
大小与两者之间的距离的关系。这一距离就是镀层厚度。
在磁感应法中，从探头发出的磁力线穿过非铁磁性的镀层进
涡流法使用高频交流在镀膜构成的测试点里形成磁场。当探
头碰到金属的导电样品时，形成涡流并反馈给测试探头。这一反馈
的大小取决于测试探头与基底相隔的距离，于是用以测量厚度。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科