标题:镀层的厚度及其均匀度测量用表面轮廓分析显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2014-11-14 19:56:29 将本页加入收藏

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正文:

镀层的厚度及其均匀度测量用表面轮廓分析显微镜

镀层厚度检验
  镀层的厚度及其均匀性是镀层质量的重要指标,它在很大程度上影
响产品的可靠性和 使用寿命。

  镀层厚度测量方法应具有一定的准确性。目前用于测量镀层厚度的
方法较多,总的为破坏性和非破坏性两大类,属于破坏性的测量法有
点滴法、流液法、电量法(库仑法)和金相法等;属于非破坏性的测
量多采用仪器测量法。

  以上几种测量镀层厚度的方法均为镀层的局部厚度,因此测量时至
少应取三个点,并计算其平均值作为镀层的平均厚度。
  电镀层厚度检验的取样方法和数值应按产品的技术要求确定。测定
部位除零件有规定部位外,一般应在受检镀件的电镀主要表面的中间
道听部位,必要时在记录测定时指明。











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