标题：使用电子显微镜直接观察在玻璃表面粗糙度
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-11-12 12:39:13
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正文:
透过型电子显微镜法(TEM)
用透过型电子显微镜观察玻璃表面的尝试，可能起因于
想用肉眼直接观察在玻璃表面上可能出现的格瑞弗希裂痕。
然而，事实上看不见这种裂纹。根据电子显微镜的放大倍数
和格瑞弗希裂纹大小的关系，是理应观察得到的，之所以未
能见到，恐怕是与裂纹的形伏有关。同时，也可能和TEM的
使用方法有关。
电于显微镜观察用的样品制法有两种。
一是制作圾璃复型膜，根据膜象的浓淡，推断出原型玻璃表
面的象。这是间接法。
二是制作超薄玻璃片，直接观察其透过象的形状。
间接法具有操作简便的优点，但是分辨
率不高，直接法的特点是直接观察玻璃本身，所以准确、分
辨率高。也可以测定电子衍射，但是缺点是难于观察立体图
象。因而，为了得到清晰的图象，常将玻璃表面腐蚀，或者
在复型膜上制出阴影等，经常用直接观察物体本身的方法，并且
下述的扫描电子显微镜也开始广泛应用。
由于电子对物质的穿透力很弱，若用透过型电子显微镜
直接观察，必须把试样作得非常薄。因此，研制了高压电子
显微镜，即提高加速电压。如果使用500千伏(50兆伏)
级的电子显微镜(普通的TEM的加速电压是50-100千伏)，
就可以充分测定厚3微米左右的物质。最近制成了加速电压
为300。千伏(3兆伏)级的电子显微镜，可以观察更薄的膜。
至今为止，还没有用这种超高压电子显微镜观察过玻璃表面，
今后或许能应用。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科