标题:奥氏体合金的晶界金属样品截面分析显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2014-10-2 7:03:15 将本页加入收藏

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正文:

奥氏体合金的晶界金属样品截面分析显微镜

晶界萃取碳复型的制备

    要制备晶界萃取碳复型,重要的是尽可能充分地暴露合金的
晶界.并将晶界面上沉淀的第二相无遗漏地萃取下来.

    所谓的“低温断口”技术能充分暴露奥氏体合金的晶界面。
从实验合金中取出能提供足够断面尺寸的试样。将试样开槽后浸
人液态氮( -196℃)中,保持约30min,取出后迅速冲断。为了避
免断面凝霜,将断口放进无水乙醇中,待其温度升高后,取出吹
干(或自然千燥),即得到所谓的“低温断口”。对常用的高温合
金,特别是经时效处理后的试样,其“低温断口”一般以沿晶界面
裂为主要特征,至少能为观察研究提供足够多的晶界面。

说明了晶界萃取碳复型的制备过程。将断口试样直接放入真空室喷碳,
就得到覆盖在合金晶界面和晶界相上的一层碳膜,
即碳复型











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