标题:分析仪器如金相显微镜、扫描电子显微镜(SEM)检测细微结构

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2014-9-19 17:19:39 将本页加入收藏

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正文:

使用分析仪器如金相显微镜、扫描电子显微镜(SEM)检测细微结构

    调查报皮工具,特别是引起事故原因,是明确“为什么报废”的重要一环。

在返回头来重新评价使用状况和工具设计的同时,对工共表面和破断面的观察、
重点调资现象与细微组织(塑性流动、碳化物分布)的关系等等都是非常有效的
对策。

借助分析仪器。如金相显微镜、扫描电子显微镜(SEM),X射线分析(EPMA),
离子微分析((IMA)等使用于调查的话,那一定会得到相当准确的信息和知识。


    形貌和显微组织覆盖层的结构一它的形貌和显微组织
乃是其形成条件的反映。条件改变,影响结晶过程,因而也
就影响到覆盖层的形貌和显微组织。

    气体介质结晶的过程非常复杂且受许多因素影响。这类
因素有:沉积金属过饱和蒸气;在生长着的晶体介面士杂质

原子的吸附,工作介质的成分和压力,所用的挥发性化合物
分解时工作介质的转变类型以及衬底的影响等。在工作介质
放电点燃时,其中大多数因素都可能发生重大变化,因此有

理由相信,放电中所获得的覆盖层应不同于条件相似但不放
电所获得的覆盖层的形貌和显微组织。

    我们立刻就可以看到,放电所形成的覆盖层与未放电所
形成的一样,并无任何特殊的显微结构,仍然只观察到两种代
表性的组织:具有清晰边界的柱状晶粒以及实际上无序分布的晶粒,
后者在覆盖的表面上形成具有半球状

  “露头”的大体还明显的雏晶。在较高的放大率下,可以清晰
的看到放电所得的覆盖层中,晶粒之间有完整的晶界覆盖层的
显微组织明显地取决于放电功率密度

。在较大的功率密度时,形成具有清晰表面间界且晶粒很粗的
覆盖层。










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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