标题：细胞颗粒测量显微镜二维图像上的测量包括面积与曲线长
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-9-13 10:13:07
将本页加入收藏
下一篇：电子显微镜能直接观察到生物细胞内各种超微结构
上一篇：高蠕墨铸铁硅含量与截面显微结构的特点-金相显微镜
点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
三维结构的参数是以二维图像上的测量及计数的数据为基础
的。二维图像上的测量包括面积与曲线长，二维图像上的计数，
主要是颗粒截面的计数。
在二维图像上数颗粒的数目，要求先确定测试面积，在此面
积之内计数。
首先在底片或照片上划定测试面积，通常为长方形。由于顺
粒截面有可能压在边线上，在计数时必须遵循一定的原则。可以
有两种办法。一是取颗粒的长轴与短轴的交点为中心点，如果中
心在边线内测，则计入，在外测，则不计入，中心点压在边线
上，则计士，压在四角的顶点，则计+。另一种办法是，颗粒截
面压在上边线及左边线，均计入，压在下边线及右边线，则不计
入。更严格些，右边线向上的延线及左边线向下的延线
以及下、右两边线，统称为禁线(forbidden line)，
压在禁线上的颗粒截面，均不计入。禁线的这种规定，是为了避
免同一颗粒截面在相邻的几个测试面积中重复计数。
在电镜照片上数一种题粒的截面，特别要注意识别通过颗粒
边缘附近切出的小截面，这种截面不仅面积较小，而且边缘不
清，反差较小，容易漏计。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科