标题:微小长度及微小位移的测量称为比较测量-比较显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2014-8-26 18:21:50 将本页加入收藏

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正文:

微小长度及微小位移的测量称为比较测量-比较显微镜

    在大尺寸和大位移测量中,是用标准尺等直接测盘被测
件,即由标准尺等指示出测量值。通常把这种测盘仪称为指
测量仪

    因此,把微小长度及微小位移的测量统称为比较测量,把
大尺寸、大位移的测量统称为指示测量,又称绝对测量。
    光学主动测量即光电转换法。主要是通过光电转换把测
得的光量转换成电量。

    这种测量方法,包括光学杠杆式(很早就用于精密测量)
及透镜放大式,这两种方法都属于被动测量法。

    此外可以把很小的光电元件,按直线形状排列,取代刻度尺,
或者做成下节叙述的电码标尺取代刻度尺,这样就能把长度最转
换成脉冲盘或数字盘。











出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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