标题：微观组织结构与原铸态基体样品差别分析图像显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-7-28 0:16:58
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正文:
对定向凝固叶片和单晶叶片材料再结晶行为的研究表明，再
结晶层的微观组织结构与原铸态基体存在明显的差别，这些差异
无疑会引起再结晶区域导电性能的变化。
由于再结晶层的范围有时较小(有时仅在毫米量级)、深度较
浅(通常在十至百微米量级)，采用常规的涡流检测仪器和技术几
乎难以测量出叶片上的再结晶的存在和严重程度，这一困难主要
源于常规检测线圈的直径要比再结晶区域大，测量能力达不到分
辨出再结晶区与原铸态基体的电性能差异的水平。针对叶片再结
晶形貌与结构的特点，探索采用涡流方法实施有效的测量，应在以
下三个方面开展深人的研究:①再结晶区域导电性变化程度测量;
②消除叶片型面变化所产生的影响;③提高涡流检测的分辨率。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科