标题：断口形貌粗糙度测量用光学显微镜制造厂商
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-6-22 0:04:33
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正文:
对于透明的固体，使用透射和反射光可以让我们看到更多的断口形貌细节。
标准的显微学可能不允许这样做，但对于断口形貌学来说，这样做是非常有必
要的。
在观察粗糙表面时，通过表面对光的反射，能够得到明暗对比的效果。对于
反光显微镜(reflected light microscopy)来说，样品表面垂直于光轴的部分能将光
反射到透镜系统中去，因而会显得明亮。当样品表面的反射率比较差时，可以在
样品表面镀一层非常薄的光亮金属(non-tarnishing metal)，例如金或铂，获得这
层金属的最有效的方法是真空溅射沉积(sputter deposition)。对于更加复杂的光
学显微镜技术，照明控制非常必要。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科