标题:电阻器电粒子的分布适合使用电子显微镜来分析

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2014-6-7 19:38:48 将本页加入收藏

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正文:

电阻器电粒子的分布适合使用电子显微镜来分析

    除去电阻器保护涂层后.用欧姆表从电阻器的一端沿着电阻膜朝另一端进行探
测,测量电限值.找出故障位置。测量表明,电阻器荃体上的电阻膜中有一条不到
lmm的隙缝。测量从电阻膜到电阻器两端帽的低阻电连接,发现,用于分析的两个故
障电阻器都在同样位置出了故障。两者的故障都发生在电阻膜螺旋形切割的起始处。
在故障位置没有发现过热痕迹。

    扫描电子显微术为了确定在故障区内故障电阻器导电粒子的分布.利用了扫描电
子显微镜。在故障区采用快扫描速率以确定导电膜是否存在诸如裂纹、隙缝、空洞之类
的物理缺陷。在没有观察到物理缺陷时,就用慢扫描速率获取后向散射图像。这个方法
能确定在电阻膜中和电阻器绝缘表面上导电粒子的粒子数。发现故障区是不含导电粒
子的碳膜区。在电阻器的绝缘区内观察到过量的导电粒子。这些观察证明,电阻器的故
障很可能是导电粒子迁徒远离电阻器区域的结果。观察到故障发生在,电阻膜螺旋切割
的端部。这个区域可能有最高的电场,从而提供引起导电粒子迁徙的力。










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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