标题:上光显微砂粒颗粒图像自动测量分析软件厂商

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2013-12-16 16:00:24 将本页加入收藏

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正文:

上光显微砂粒颗粒图像自动测量分析软件厂商

    有些样品如泥质胶结的砂岩,不易松解。要测量其中
砂粒的粒度,
可将砂岩直接磨成片状样品,

用反射显微镜(金相显微镜)测量。此外,对较粗的粉末,
也可在务使分散的条件下,将颗粒包埋在树脂类物质中
成为块状样品,磨光后对磨光面进行观察测量。

此时应注意所谓截面效应的问题。透射显微镜测的是颗粒
的投影像,

而反射显微镜测量的是块样的磨光表面(即光反射面)对于颗粒
所截的轮廓像。对于包埋着许多球形颗粒的样品,
磨光表面所截的圆的直径会普遍小于球粒直径。

透过显微系统将图像放大,在经过上海光学仪器一厂自行研发的图形统计软件
自动进行分析统计,省去很多繁琐的工作量










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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