标题：硅芯片试样检测实验显微镜- 硅晶片表面粗糙度
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-10-26 0:01:31
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正文:
碳、硅含量皆太高时
若碳、硅含量皆高于目标值时，通常加入废钢料，以降低碳、硅含量。
范例：
现有一炉 2 吨铁水，其目标成份为：碳 3.6％，硅 1.8％。目前经碳当量测
定仪测得其成份为：碳 3.8％，硅 2.0％，请问要再加入多少废钢，才能符合目
标值（废钢之含碳量为 0.2％）。
解答：
(一)因废钢中不含硅量，故可从目标之硅量着手，进而计算出加入之废钢
量。假设欲达目标硅量，所需之总铁水量为 Xkg，则
X×1.8％＝2000×2.0％ （因硅量不因废钢加入而增加）
➾X＝2000×2.0％ ÷1.8％
≒2222kg
即尚须加入 2222kg-2000kg=222kg 之废钢，方能符合硅之目标值。
(二)现在，若加入废钢 222kg 时，硅量可达目标值，但碳含量却不知是否
符合目标值，因此，必须加以计算。
(1)目前炉内之碳量为：
2000kg×3.8％=76kg …………(1)
若加入废钢 222kg 于电炉内时，其碳量为：（废钢之碳含量为 0.2％）
76kg+222×0.2％=76.444kg…………(2)
因此，加入废钢后之碳含量将变为
(76.444/2222)×100％≒3.44％…………(3)
所以由(3)式知加入废钢后，碳含量反而低于目标值，因此，必须再加
入加碳剂调整之。（依 40 页之范例计算之）
2222kg/炉×（3.6–3.44）％≒35.5kg
35.5kg÷90％≒39.4kg
(三)经由上述计算结果，必须加入废钢 222kg 及加碳剂 39.4kg，方能调整
铁水成份于目标值内
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科