标题：测量微型元件三维轮廓立体显微镜厂商-影像测量仪
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-10-21 7:42:06
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正文:
为测量微型元件三维轮廓曲面，为量测系统示意图。
当结构光经由立体显微镜缩小投射至待测物表面时，由于待测物表面起伏变化，
会使得结构光之条纹图案产生扭曲现象，
而此扭曲程度即代表物件轮廓资讯，由 CCD 摄影机将扭曲影像
取回，经由影像采集卡将影像转为数位化并传至电脑，
透过电脑视觉方法进行影像处理以计算出影像座标与绝对相位，
代入映射函数所建立之数学模型便可得到待测物形貌轮廓之三维座标
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科