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标题：晶粒尺寸测量微观显微镜-专业型测量仪器厂商

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晶粒尺寸测量微观显微镜-专业型测量仪器厂商

(1).由实验结果推断，此2202冶金级矽粉之主要杂质含量大都存在于晶粒内部，

实验过程中无法使杂质充分裸露出来，导致酸液无法顺冺与杂质反应而予以去除，

导致杂质含量没有出现较为明显降低的结果。

(2).矽粉经各热淬制程处理后，整体杂质含量曲线呈现几近水平且聚集的情形，

表示矽粉经热淬后裂纹出现的机率不高，使酸液无法沿裂纹侵入与金属杂质反应。

其原因可能与原始矽块之晶粒尺寸有关，若晶粒尺寸大、则晶界存在的比例相对减低，

热淬时所能提供裂纹的路径较少所致

出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科

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