标题：专业矿相显微镜应用于鉴定矿物及观察微观结构
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-5-31 16:38:26
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正文:
定量分析：黏土矿物之定量分析
以晶面间距为~1.7 nm (~5°2θ)、~1.0 nm (~8.9°)和~0.7 nm (~12.5°)等绕射峰（乙二醇处理后）
之积分强度分别予以经验法则之权重用于计算膨润石、伊莱石和绿泥石之百分比，计算方式如下述：
膨润石之权重强度 I1.7 nm × 1
伊莱石之权重强度 I1.0 nm × 4
绿泥石之权重强度 I0.7 nm × 2
总权重强度 Itotal = I1.7 nm × 1 + I1.0 nm × 4 + I0.7 nm × 2
膨润石之百分比 Xsmectite = 100 × ( I1.7 nm／Itotal )
伊莱石之百分比 Xillite = 100 × [( I1.0 nm × 4 )／Itotal]
绿泥石＋高岭石之百分比 Xchlorite + kaolinite = 100 × [( I0.7 nm × 2 )／Itotal]
绿泥石之百分比 由在d = 0.36 nm附近之高岭石绕射峰（24.8°-24.9°2θ）和绿泥石绕射峰（25.15°-25.2°2θ）
之强度比值Ichlorite／Ikaolinite = I25.15°-25.2°／I24.8°-24.9° 可计算得绿泥石之百分比Xchlorite = Xchlorite + kaolinite × I25.15°-25.2°／I24.8°-24.9°但因本研究中并未侦测到24.8°-24.9°2θ之高岭石002绕射峰，
因此不采计高岭石之含量。
(8) 结晶度值量测：伊莱石结晶度值以量测伊莱石~8.9°2绕射峰半高宽行之，
绿泥石结晶度值则量测绿泥石~12.5°2绕射峰半高宽，均是以镁饱和乙二醇处理顺向试片之绕射图为量测对象。
电子显微分析
为辅助鑑定矿物及观察组织，选择各活塞岩心之最深标本制作抛光薄片，进行扫瞄式电子显微镜（SEM）分析，
G23测站则分析了最深的3个标本，总计分析了G1-P1、G2-P2、G3-P1、G4-P1、G5A-P1、G6-P1、G10-P1、G15-P1、
G17-P1、G19-P1、G21-P1、G22-P1、G23-P1、G24-P1、N4-P1、N6-P1、N9-P1及N13-P1等18个测站20个标本，
分析标本之资料列于表二。所使用的仪器为成功大学地球科学系之JEOL JSM 804A扫瞄式电子显微镜，
操作条件为20 kV加速电压和0.4 nA探针电流，配备Ｘ光能量散射光谱仪，可进行主要元素之定量或定性分析。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科