标题：光学显微镜测量工具在在三维表面量测上的应用
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-5-27 1:46:43
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正文:
光学测量系统在在三维表面量测上的应用
应用光学系统于物体的三维表面有着快速及非接触等优点，但数码影像只呈现二维平面的资料，
所以应用在三维表面量测上，必须利用空间成像几何关系或影像光强度的计算方式，
来求得二维影像相对应的 z 轴深度，目前所发展出来的三维表面光学非接触量测系统，
有雷射共焦显微镜、三角量测法、结构光投影法和对焦寻形（Shape from
Focus）等，这些方式是将光束投影至待测物表面，
再利用光感测器或 CCD 摄影机量测待测物表面反射光的强度或相位变化等，推测出
物体表面形貌和这些变化量的关系，进而重建出待测物之三维表面。
上述的方法中以雷射共焦显微镜的精确度最高，但其应用上因为雷射
与针孔（pinhole）（例如：Nipkow disk）等设备昂贵而受到限制，且
因为要置入比较多的硬体设备所以系统体积较大，
也因其为单点光源作 xy 方向的扫瞄，所以量测的速度较慢。
一套可重建待测物三维表面的量测系统，其优点为系统硬体架构价格便宜，
因其架构为一般的光学显微镜，体积也较小，
且其光源为全域照明，所以其量测速度较快，但其精确度不及雷射共焦显微镜
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科