标题：电子显微镜来统计金属材料的粒径非常方便
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-5-21 20:44:50
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正文:
使用原子力或是电子显微镜来统计材料之粒径，为一个十分直接的方法。然而取样数目则需十分大
量方能接近实际的材料状况。同时由于观测到的颗粒大小，十分容易受到备制显微镜样品的方法的影
响。因此最好能配合 x 光绕射施瑞尔 - 威尔森的分
析方法，以得到较为接近的数据。
对于纳米超导金属的一些物理量的量测，首先可以针对针对一系列已分析确认为纯相，并具有粒径
分佈较窄的不同平均粒径的纳米铅，进行电阻、比热的量测
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科