标题：不同位置及温度改变的微光激发荧光光谱-荧光显微镜厂家
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-4-27 21:39:32
将本页加入收藏
下一篇：荧光经分光仪分光后由元件CCD影像分析
上一篇：金相显微结构是利用扫描式电子显微镜观察材料试片
点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
利用光激发荧光光谱、微光激发荧光光谱及原子力显微镜，来研究高铟含量氮化铟镓（InxGa1-xN）
薄膜结构的发光特性。由光激发荧光光谱，观察在室温下氮化铟镓合金浓度分佈在0 ≦x ≦ 1之间的发光位置。
在原子力显微镜的影像发现，高铟含量（0.92≦ x ≦ 0.36）的氮化铟镓表面有团状物的形成，
同时在变温光谱中，其讯号峰值随温度上升，有一S型的能量变化外，
半高宽变化也有不规则的改变。最后藉由不同位置及温度改变的微光激发荧光光谱，
来加以探讨这些不寻常现象的原因
在半导体光电元件的发展过程中，寻找高效能的发光材料一直是大家努力的方向之一，
由于化合物半导体材料本身具有相当多的优
点：如发光效率高、操作生命期长、能隙可调范围大……等优点，因此能在许多发光材料中脱颖而出。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科