标题:表面结构分析光学显微镜厂家-微区元素分析仪器

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2013-4-16 0:54:27 将本页加入收藏

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正文:

表面结构分析光学显微镜厂家-微区元素分析仪器

目前最普遍使用的材料分析技术。在表面结构分析方面,除了光学显微镜外,使用率最高的首推扫描式电子显微镜(SEM),
但因为尺度持续缩小至奈米以下,

需要更高倍率以及高解析度的材料内部结构影像分析,所以近年来穿透式电子显微镜(TEM)也佔有很重要的位置。而在微区成分分析的部分,
X光能谱分析仪除了其在化学元素分析上具备简便且容易操作的优点,


又可搭配附加于扫描式或穿透式电子显微镜的便利性,自然是微区元素分析仪器的首选。
不过,若分析如金属矽化物等需作材料内部不同晶格结构测定分析,还是必须藉由穿透式电子显微镜的电子绕射技术(electron diffraction)或是X光绕射分析仪(XRD),
才可以获得深入且完整的分析。 











出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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