标题:穿透式电子显微镜是金属观察解析度较高的仪器

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2013-3-30 20:36:57 将本页加入收藏

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正文:

穿透式电子显微镜是解析度较高的仪器

生成物层的厚度会随反应时间增长而增厚,而增厚的速度则跟反应的温度有关

为扩散偶在 480℃下经不同反应时间界面生成物生长情形之BEI图

明显看出随着时间增加,界面生成物层的厚度会迅速地增厚,
且介金属两侧的界面皆呈现平面型态。扩散偶在反应温度 450、430
与 400℃之界面生成物的生长情形亦类似于在 480℃反应后的界面型态,

如,但在相同反应时间条件下,界面生成物的厚度会随温度的降低而减薄

为稳定相的MgNi2并未被观察到,其可能原因可分为
MgNi2有生成与未生成两部分来讨论。假定在界面反应中MgNi2有生成,未
观察到此相的存在乃是因其量太少或是厚度太薄,而侷限于分析仪器之极
限而未能侦测到,此种仪器解析度所造成无发观察到此相的原因,理论上
可以使用解析度较高的仪器如穿透式电子显微镜(TEM)来判别











出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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