标题：偏光显微镜-沉积物薄片岩样样本抛光磨平厚度约0.03mm
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-3-7 16:50:58
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正文:
偏光显微镜-沉积物薄片岩样样本抛光磨平厚度约0.03mm
沉积物薄片：
(1) 采集而来的沉积物可依研究目的不同而做一些前处理，例如：过筛、去碳酸盐类的生物碎屑等，以降低分析上干扰。
(2) 处理完成后，把沉积物样本放置于一容器中，并倒入环氧基树脂，待树脂完全固结后，将固结的沉积物样本以切割机将其裁切至符合玻片的大小。
(3) 把切好的标本选择一较平整的面，以 #600 ～ #1000 的碳化矽粉末确实将此平面抛光磨平。
(4) 岩样处理完成后，将经过抛光磨平后的平面以环氧基树脂黏附于玻片上，并将其固定、静置。
(5) 待胶固化后，再以不同粗细的磨片机粗磨及细磨样本，使其标本的厚度约至 0.03 mm 即完成。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科