标题：解像率是光学仪器对物体细微观察的能力
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2012-12-3 3:02:24
将本页加入收藏
下一篇：光学平镜的使用方法和量测的步骤-金相显微镜厂家
上一篇：光学立体显微镜以及分光仪设备简介,光学CCD厂家
点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
解像率是光学仪器对物体细微观察的能力
照相系统中（设备、光学、感光材料与软片处理法）用以记录影像精密性能力的参数。
解像率乃光学系统和照像材料对物体细微部分表现的能力，为影像清晰程度的测定方法，以每公釐内可鑑别的线对数表示。
检验方法为以50X至150X显微镜观察所拍摄检验目标中之五张解像率测试卡，以其中表现最差者做为全片或全捲的解像率。
测试卡内每一图 线均赋予数字，代表每公釐可辨识的线对数，以最细微可辨认的图形数字乘以拍摄时的缩小倍率即为解像力。
例如缩小倍率为1/24其可读图案若为5.0，则解 像力为120线对/mm（拉丁语系之解像率要求标準），
要求则须达150线对/mm以上。解像率之要求与拍摄的原件性质及缩小倍率有关，缩小倍率愈高，解像率要求亦愈高。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科