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正文:
轮廓一般皆是指工件二度空间下的断面状况,但也有三度空间轮廓量测的要求,二度空间轮廓量测较易处理,
至于工业界做三次元外形的检测工作,
如生产线上的品质管制或制造工厂的铸模设计等。目前常用之方法系使用三次元座标量测仪,它使用探针头以点对点或靠模的方式扫描整个物体,再经由电脑的数据处理而得到物体外形。由于是接触性的检验,因此很容易破坏物体表面或探针头。
另有光学之方法系利用光之干涉及投射作用产生之条纹,来推算物体外形轮廓之变化。它们通常具有良好的解析度,但实际操作时对环境(如振动、杂光......等)要求甚为严格,至于条纹之分析现皆由电脑代劳,最后可得物体表面等高线之资料。

光学之方法测量物体外形轮廓之变化
物体表面等高线即物体外围与空间某些平行平面相交之交线,每条条纹均代表距一固定平面等距的物体表面上各点的轨迹。
基本上此等高线可显示物体的外形轮廓变化状况。亦可达成下列目的:
1.物品外形轮廓检验。
2.物体表面变形的量度。
3.记录物体轮廓在长期使用下逐渐变化效应。
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出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科