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透射电子显微镜的准确操作和怎样校正？
   　　电子显微镜由于构造複杂，操作上亦较一般光学显微镜困难，因此除了熟练的操作技巧外，亦须具备精确的校正能力，不论是光学显微镜的玻璃透镜或是电子显微镜电磁透镜，由于制造上不可能达到完美，因此会有像差的产生，其校正方法可用较小的孔径遮去边缘的电子而改善，但是会使解像力变差。由于磁场的不对称使电子进入透镜时在不同轴面之偏转程度不同而使影像变形，此时可利用像散校正器加强磁场较弱的轴面使之对称。一个电子显微镜的操作员必须知道如何校正像差方可得到较高之解像力，现将基本操作与校正步骤分述如下：
   
2.1.  开机
   　　首先必须打开电源开关及冷却水系统，然后启动真空系统，先以迴转式唧筒抽至 10-2 torr，再以扩散式唧筒抽至 10-4 ～ 10-6 torr 方可使用。现代的电子显微镜均设计成全自动真空系统，无需人为操作，可避免人为疏忽而造成油气倒灌，通常约 20 分镜可完成。
   
2.2.  电子枪的操作与校正
   　　当真空度到达后，便可打开电路系统。首先将加速电压加至 60 到 100 KV，待电压稳定后再将灯丝加热至饱和点。灯丝之寿命与真空度及加热时之温度有关，最理想之状况可维持 40 至 80 小时，所谓灯丝饱和点即当灯丝逐渐加热时在萤光板上可见灯丝之影像，随着温度逐渐加高影像由中空环形状逐渐成一实心光点，此即为灯丝之饱和点，灯丝位置之正确与否可由未达饱和点之光环形状及在萤光板上可见灯丝之影像，随着温度逐渐加高影像由中空环形状逐渐成一实心光点，此即为灯丝之饱和点，灯丝位置之正确与否可由未达饱和点之光环形状及在萤光板上之位置来判定，并加以校正，使其在萤光板中央形成一对称的光环再加热至饱和点即可。
   
2.3.  聚光镜与可动孔径之校正
   　　聚光镜可将电子束聚集于标本上，并可调整照明范围之大小与亮度，通常有一像散校正器可校正磁场之对称性使电子束成一对称光点，可变孔径亦须校正，在选定适当大小之孔径后，调整孔径位置使其在焦前 (under focus) 或焦后 (over focus) 时的照明光点均在同一位置形成同心圆。
   
2.4.  标本置换与物镜之校正
   　　标本之置换因厂牌与机型而有很大之差异，只须依使用说明书操作即可。物镜之校正可分为三部份：
2.4.  1.电流中心与电压中心
   　　电流中心与电压中心校正乃指一定频率来回改变物镜之电流强度或电子枪加速电压之大小，从影像晃动的方式来判定及校正电子束与镜柱主轴之对称性，当电子束与镜柱主轴一致时，电压中心可观察到物体影像以萤光板中央为中心，随电压改变的频率对称的放大与缩小。而由电流中心则可观察到影像对称于中心点沿逆时针与顺时针方向来回晃动。若影像晃动不动称时，可调整电子束倾斜 (beam tilt) 控制钮之对称。
2.4.  2.物镜可变孔径之选择与调压
   　　物镜可变孔径之大小与影像对比度与解像力有关；孔径越小时对比度越高，解像力越差，因此选择适当大小的物镜孔径可提昇影像之清晰度。孔径必须调整至主轴中央才不致影响影像品质。
2.4.  3.物镜像散之校正
   　　物镜是检体呈像最直接的透镜，也是影响最大的透镜，而在各种像差影响中，又以像散最为重要，尤其在高倍率的时候，更为重要。物镜像散之校正以多孔膜 (holly film) 作为校正之样品，先在高倍下找到一小圆形小洞，调至焦后 (over focus) 使小洞边缘出现一黑圈，调整像散校正器使黑圈对称，然后逐渐改变焦距，使小洞边缘之黑圈消失，若黑圈不同时消失，调整像散校正器使之对称，如此来回调整直到正焦 (just focus) 时，黑圈均匀消失为止。
   
2.5.  对焦与照相
   　　经过上述的校正后，只要对焦正确就可得到清楚的影像。通常在正焦时影像之解像力最高，但对比度较差；错焦 (defocus) 时则会损失解像力，但可提高对比度。通常我们以此微的焦前作为最后对焦状况，因为此时物体所呈现之影像有较高的对比度，又不会造成影像误判，尤其是在生物标本的观察上，对比度的因素远比解像力重要，故轻微焦前为最理想之结果。
　　由于电子显微镜有相当长的焦深 (depth of focus)，萤光板与底片虽不在同一平面上，但对影像之清晰度完全无影响，也就是说只要在萤光板上对焦正确，底片上可得相同清晰之影像，故对焦完成后，调整适当亮度与曝光时间即可将萤光板移开，让影像直接显现于底片上。曝光完成后经过负片显像及相片冲印即可得到永久的影像。

出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科