显微镜,金相显微镜,生物显微镜,北京地区专业供应商

点击查看产品参数和报价--丨--

正文:

最早的扫描探针显微镜仪器是STM，其设计的概念早在1979年由IBM公司的Binnig和Rohrer提出，并在1982年付之实现，其原理是利用探针与导体间的穿隧电流来做呈像讯号，利用这仪器可在一般空气中得到原子级的解析度，此发明亦打开了样本表面原子排列研究之门，他们两人也因为此贡献得到了1986年的诺贝尔物理奖。由于STM应用的是穿隧电流，所以样本必须是导体才能为
功。
其后为免除样本仅止于导体的限制，1985年Binnig, Quate 和Gerber发明了AFM，其原理是利用一极柔软悬秆上探针与试片之间微小的原子力 --- van derWaals力(约为数个nN左右)做呈像讯号，遂使非导体也可用扫描式探针显微镜来观测。此举非但大大的减少样本观测前的处理，并可于液相中直接观测微观的样本，进而亦可用于生物样本上的观察(1)。此类的发明瓶颈大开，之后更有利用不同电性、磁性的探针以侦测样本表面电力或磁性变化的扫描探针显微镜被开发，一再促进了扫描探针显微镜在表面量测上史无前例的应用性。

自1990年后电脑运算与控制技术的提升，扫描探针显微镜更具有了原子操纵术、奈米
级的微影蚀刻术与奈米结构製作等功能，豪迈开阔了扫描探针显微镜应用的范围。

呈像原理
扫描探针显微镜中被应用最广泛的是原子力显微镜，许多其他功能的扫描探针显微镜仪器大都架
构在AFM原理之基础上