标题：颗粒复型技术和金属投影技术试样制备
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2020-2-19 0:17:04
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正文:
颗粒复型技术和金属投影技术试样制备
对于100nm以下的超细颗粒进行分析时，采用超薄切片的自然固化，先
用按一定配方和条件混合自然固化的环氧树脂将颗粒包埋，再用超薄切片
机切成30—100nm左右的薄片，即可捞在铜网上在电镜下直接观察。
还可采用颗粒复型技术和金属投影技术进行试样的制备，因为被观测
颗粒对电子束的透明性很差，在荧光屏上显示的是颗粒的投影像，要使颗
粒像更具有立体感或要观察其表面形貌，常使用颗粒复型技术和金属投影
技术。
扫描电镜粉体的试样制备
扫描电镜的分辨本领较低，但分析快，并能得到更多三维空间的细节
，亦更易于输人图像分析仪，还可将几种图像信号及X射线信号结合到一起
分析，实现颗粒的自动识别和分类统计。扫描电镜能容纳大到25X25mm的试
样，而且放大倍数可波动在20至100000倍之间，分析颗粒粒度的范围亦较
大，景深很大，能观察更多关于颗粒和表面结构的信息。
一般性颗粒试样可用双面粘胶带制备，将双面粘胶带粘于SEM目标端头
，把粉末撤向粘胶带，再用“小皮吹”吹去多余的颗粒即可。此方法不适
用于自动图像仪，后者一般采用将颗粒悬浮液喷到镀铝载玻片上，
粉料颗粒的粒径测定和粒度统计要求用图像分析仪测量已制试样上所有
的颗粒大小是不现实的，必须随机地或按照预先指定的规程从已制试样中
取若干区域进行测量。最简单的是测定按一定规定选择的一定视域600个以
上的颗粒。计算粒度分布应视测量的是粒数分布还是重量分布而定。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科