标题：烧结晶粒与树胶的折射率分析显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2019-11-1 9:21:00
将本页加入收藏
下一篇：晶体不同方向的折射率不等分析显微镜
上一篇：天然生物材料的结构和功能-细胞分析显微镜
点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
烧结晶粒与树胶的折射率分析显微镜
另一种分类是根据晶界两边原子排列的边贯性来划分的。当界面
两侧酌晶体具有非常相似的结构和类似取向，越过界面的原子应是连
续的，；这样的界面称为共格晶界。晶格参数相同或差异不大时，才
会出现共格界面。晶格参数不同时，通过位错可形成半共格晶界：晶
格参数相差太大时，不可能是共格晶界，而与相邻晶体伺有畸变的原
子排列，这样的晶界称为非共格晶界，通过烧结得到的多晶体，绝大
多数为这类晶界。即使在单相体系中，虽然物质的犀格参数相同，由
于小晶粒的位向不同，也不会出现共格。显然，；共格界面能比司巨
共格界面能低。在界面上的组成单元比晶粒内部的能量高，但比表面
上的低。
晶界和相界是杂质优先聚集的地方，结构单元堆积比晶体内部疏
松，看起来如同无定形玻璃，它与晶粒内部的性能有明显的差别。晶
界上的杂质浓度随温度升高而增加。
从晶界的拓扑学来说，在一个点上决不会出现四个或更多的晶界
，这是因为这种状态是不稳定的。一般来说，三个晶界构成120°的角
。只有六角形晶体的直线晶界是介稳的，弯曲晶界(截面角少于六个时
向外弯曲，多于六个时向内弯曲)是不稳定的。
多色性强弱还与切片方位及薄片厚度有关：同种晶体不同方向切
片的多色性强度不同。平行二轴晶光轴面及一轴晶光轴切片上多色性
最显著，垂直光轴切片不显多色性。薄片愈厚显示的多色性及吸收性
愈显著，在超薄片中不明显，甚至看不到。
与晶体对光线折射引起的有关性质
薄片中晶粒与周围介质(包括其他晶体、玻璃体及粘结剂树胶等)
之间的折射率不等，光线透过二者界面时将发生折射。由于薄片中所
有晶粒均可与折射率为1．540的加拿大树胶接触，在后者与晶粒的相
界面因光线折射将产生边缘、糙面、突起及贝克线等光学现象，从而
可比较晶体折射率的相对高低。
(1)轮廓线 晶粒与树胶的折射率不等，光线射到二者介面时，因
折射使交界处光线偏折而减少，在周围出现一条暗线，称为轮廓线，
又称边缘。轮廓线的粗细及明暗程度决定于晶体与树胶的相对折射率
，二者折射率相差愈大轮廓线就愈粗愈暗，反之就不明显，甚至只有
采取缩小光圈才能看到轮廓线的痕迹。
(2)贝克线 与边缘产生的同时还有一条因折射光线集中而出现的
亮线，称为贝克线，亦如图2—18所示。薄片中轮廓线和贝克线是相伴
平行而生的，无论接触关系如何，轮廓线总是出现在二者交界线处，
而贝克线总是在折射率较高的介质一边，而且升降镜筒改变物镜的焦
点平面时，轮廓线不动而贝克线则作平行轮廓线的左右移动。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科