标题:光学显微镜自动记录物料颗粒测定仪应用

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2019-10-21 2:37:53 将本页加入收藏

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光学显微镜自动记录物料颗粒测定仪应用

    为实现不断平衡天平的称量,计时和记录的自动化,分析结果的
自动化处理,目前有各式各样的沉降分析天平,其中应用较广泛的是
国产TZG-2型自动记录物料颗粒测定仪。
    d.光透过法  光透过法是以沉降分析的原理和固体颗粒的消光现
象为基础。当光束通过悬浮液的颗粒时消光。随着颗粒不断沉降,透
过的光逐渐变强。
    根据上述现象,光透式分析仪可以测定颗粒组成分布。为了加速
细颗粒的沉降速度,缩短分析时间,可采用离心机对悬浮液进行离心
    光透过法与其他方法进行比较,具有悬浮液中无须插入测量器,
所需的试样量极少,悬浮液浓度很小,试验所需的时间也短等优点,
因此适用于自动测定记录。但当颗粒大小接近入射光的波长时,几何
光学定律被破坏。
   测试。试样的制备与安德列生沉降瓶法相同。进行试验时需将计算
公式中如试样的真密度、介质的密度和黏度、沉降方法、沉降高度,
测定最大至最小各级颗粒直径及试验日期等输入计算机。一般在0.5
—50~tm之间根据需要可以任意分级。计算机根据输人的数据,计算出
各级粒子静置自由沉降时间等参数,在自由沉降时间超过一定值后如1
2min,可以逐渐选择一个适当的离心转速输入计算机,计算出离心时
间。然后对仪器进行空白校验,进行试验操作。测量完备,计算机同
时计算出实验结果:按颗粒分级由小到大各级的累计质量分数;累积
分布曲线;按各级颗粒平均直径的质量分数;试样的平均直径;比表
面积等。











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