标题：聚合物或其复合材料矿物分析图像显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2019-9-27 18:46:36
将本页加入收藏
下一篇：磨损氧化铝的颗粒比圆形颗粒石棉分析显微镜
上一篇：填料应用对聚合物折射率样品分析显微镜
点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
聚合物或其复合材料矿物分析图像显微镜
通过介电强度来表示聚合物或其复合材料耐高电压击穿的能力可
能十分复杂，因为不仅涉及材料的直接破坏而且涉及径迹击穿和飞弧
击穿。因此它不仅随材料的性质而变而且随杂质和孔隙而变。
一般说来，填料引起介电强度的下降，例如在聚酯树脂中30％的
碳酸钙浓度使介电强度。不过有报导说玻璃可增加尼龙，聚碳酸酯和
苯乙烯二丙烯腈共聚树脂的介电强度值。如果填料是吸湿的，它会吸
水到聚合物中从而降低介电强度。某些无机填料被认为能干扰径迹击
穿现象的形成，从而可以改进对这种形式破坏的抵抗能力，但是浓度
和制造工艺的性质会进一步影响此行为。纤维状填料被报导降低放电
电阻。
关于介电常数和介电损失，必需强调两者都受温度和频率的影响
，这实际上和介电强度一样。加填料最严重的影响是在界面产生界面
极化，它与各个组分的介电常数之比有关：一般地说，矿物填料和金
属趋向于增加总介电常数而有机填料则使之降低，但是在两种情况下
，填料吸湿到复合材料中的任何趋势都会改变这一情况。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科